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透過率測試儀TMS是一套全波長的0度角透過率檢測儀，能快速準(zhǔn)確地測量各類平面光學(xué)元件的透光率，可用于實(shí)時(shí)在線檢測，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測。

全波長透過率譜分析儀Sphere3000是一套全波長顯微球面光學(xué)元件光譜分析儀，能快速準(zhǔn)確地測量各類球面/非球面器件的相對/反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。還可進(jìn)行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。

光學(xué)鍍膜橢偏儀ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團(tuán)隊(duì)在橢偏技術(shù)多年的投入，其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術(shù)，包括消色差補(bǔ)償器、雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等。可應(yīng)用于各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學(xué)納米光柵常數(shù)以及一維/二維納米光柵材料結(jié)構(gòu)的表征分析。

可同時(shí)進(jìn)行 SCI 和 SCE 測量，并通過液晶面板顯示 SCI /SCE 數(shù)據(jù)；

技術(shù)參數(shù)符合 GB2410-2008 ASTM D1003-61（1997） JIS K7105-81 等測試標(biāo)準(zhǔn)

激光干涉儀手機(jī)面板攝像孔透射波前檢測

玻璃厚度激光測試儀本產(chǎn)品為激光位移傳感測試儀，可滿足手機(jī)蓋板玻璃等各種特種玻璃厚度測試。

光密度儀OD值測試 LS117光密度儀主要用于測量材料的光密度和透光率值，主要適用于以下三大類材料的測量：乳白，霧狀，磨砂毛面等各種漫透射材料的透光率；X光片，鋁膜等材料的光密度測量；各種菲林膠片的光密度，相對光密度，網(wǎng)點(diǎn)面積率測量。